Föreläsningarna behandlar teori och grundläggande principer för ett antal vanliga karakteriseringstekniker, såsom: röntgendiffraktion (XRD), atomkraftsmikroskop (AFM), Rutherfordsk jonspridning (RBS), masspektroskopi av sekundära joner (SIMS), svepelektronspektroskopi (SEM), transmissionselektronmikroskopi (TEM), fyrpunktsprobning av resistivitet, Hall-mättning och fotoluminescens (PL). En stor del av kursen ägnas å experimentellt arbete med ett antal av avdelningens mätutrustningar.
FIH3606 Materialkarakterisering för elektronik och fotonik 10,5 hp
Information per kursomgång
Information för HT 2024 Start 2024-10-28 programstuderande
- Studielokalisering
KTH Campus
- Varaktighet
- 2024-10-28 - 2025-01-13
- Perioder
- P2 (10,5 hp)
- Studietakt
50%
- Anmälningskod
51005
- Undervisningsform
Normal Dagtid
- Undervisningsspråk
Engelska
- Kurs-PM
- Kurs-PM är inte publicerat
- Antal platser
Ingen platsbegränsning
- Målgrupp
- Ingen information tillagd
- Planerade schemamoduler
- [object Object]
- Schema
- Schema är inte publicerat
- Del av program
- Ingen information tillagd
Kontakt
Kursplan som PDF
Notera: all information från kursplanen visas i tillgängligt format på denna sida.
Kursplan FIH3606 (VT 2019–)Information för forskarstuderande om när kursen ges
period 2 varje år
Rubriker med innehåll från kursplan FIH3606 (VT 2019–) är markerade med en asterisk ( )
Innehåll och lärandemål
Kursinnehåll
Lärandemål
Kursen ger inblick i grundläggande strukturella , elektriska och optiska tekniker för karakterisering av halvledarmaterial för elektronik- och fotoniktillämpningar. Efter genomgången kurs ska eleverna:
- kunna välja lämplig mätteknik med korrekt känslighet och upplösning.
- ha tillräckliga praktiska kunskaper för att själva kunna använda de instrument som ingår i laborationerna.
- ha god förmåga att analysera, tolka och värdera spektra och mätdata från de metoder som ingår i kursen.
- kunna korrelera resultat och dra generella slutsatser om prov som mätts med olika tekniker.
- ha uppnått en tillräcklig kompetensnivå inom en mätteknik för att självständigt kunna presentera egna mätdata i vetenskapliga tidskrifter.
Kurslitteratur och förberedelser
Särskild behörighet
Grundläggande kunskaper i optik, elektromagnetism, fasta tillståndets fysik och halvledarfysik.
Rekommenderade förkunskaper
Grundläggande fysik och kemikurser på högskolenivå
Utrustning
Ingen information tillagd
Kurslitteratur
Ingen information tillagd
Examination och slutförande
När kurs inte längre ges har student möjlighet att examineras under ytterligare två läsår.
Betygsskala
P, F
Examination
- EXA1 - Examination, 10,5 hp, betygsskala: P, F
Examinator beslutar, baserat på rekommendation från KTH:s handläggare av stöd till studenter med funktionsnedsättning, om eventuell anpassad examination för studenter med dokumenterad, varaktig funktionsnedsättning.
Examinator får medge annan examinationsform vid omexamination av enstaka studenter.
Betygsskala: P/F
Övriga krav för slutbetyg
För godkänt (P) krävs:
- godkänt på laborationerna.
- godkänt på muntlig examination av individuella projekt.
- muntlig presentation av principer och mätresultat från en utvald teknik.
Undervisningsspråk: Engelska
Möjlighet till komplettering
Ingen information tillagd
Möjlighet till plussning
Ingen information tillagd
Examinator
Etiskt förhållningssätt
- Vid grupparbete har alla i gruppen ansvar för gruppens arbete.
- Vid examination ska varje student ärligt redovisa hjälp som erhållits och källor som använts.
- Vid muntlig examination ska varje student kunna redogöra för hela uppgiften och hela lösningen.
Ytterligare information
Kursrum i Canvas
Registrerade studenter hittar information för genomförande av kursen i kursrummet i Canvas. En länk till kursrummet finns under fliken Studier i Personliga menyn vid kursstart.
Ges av
Huvudområde
Denna kurs tillhör inget huvudområde.
Utbildningsnivå
Forskarnivå
Påbyggnad
nej