Föreläsningarna behandlar teori och grundläggande principer för ett antal vanliga karakteriseringstekniker, såsom: röntgendiffraktion (XRD), atomkraftsmikroskop (AFM), Rutherfordsk jonspridning (RBS), masspektroskopi av sekundära joner (SIMS), svepelektronspektroskopi (SEM), transmissionselektronmikroskopi (TEM), fyrpunktsprobning av resistivitet, Hall-mättning och fotoluminescens (PL). En stor del av kursen ägnas å experimentellt arbete med ett antal av avdelningens mätutrustningar.
FIH3606 Materialkarakterisering för elektronik och fotonik 10,5 hp
Information per kursomgång
Information för HT 2024 Start 2024-10-28 programstuderande
- Studielokalisering
KTH Campus
- Varaktighet
- 2024-10-28 - 2025-01-13
- Perioder
- P2 (10,5 hp)
- Studietakt
50%
- Anmälningskod
51005
- Undervisningsform
Normal Dagtid
- Undervisningsspråk
Engelska
- Kurs-PM
- Kurs-PM är inte publicerat
- Antal platser
Ingen platsbegränsning
- Målgrupp
- Ingen information tillagd
- Planerade schemamoduler
- [object Object]
- Schema
- Schema är inte publicerat
- Del av program
- Ingen information tillagd
Kontakt
Kursplan som PDF
Notera: all information från kursplanen visas i tillgängligt format på denna sida.
Kursplan FIH3606 (VT 2019–)Rubriker med innehåll från kursplan FIH3606 (VT 2019–) är markerade med en asterisk ( )
Innehåll och lärandemål
Kursinnehåll
Lärandemål
Kursen ger inblick i grundläggande strukturella , elektriska och optiska tekniker för karakterisering av halvledarmaterial för elektronik- och fotoniktillämpningar. Efter genomgången kurs ska eleverna:
- kunna välja lämplig mätteknik med korrekt känslighet och upplösning.
- ha tillräckliga praktiska kunskaper för att själva kunna använda de instrument som ingår i laborationerna.
- ha god förmåga att analysera, tolka och värdera spektra och mätdata från de metoder som ingår i kursen.
- kunna korrelera resultat och dra generella slutsatser om prov som mätts med olika tekniker.
- ha uppnått en tillräcklig kompetensnivå inom en mätteknik för att självständigt kunna presentera egna mätdata i vetenskapliga tidskrifter.
Kurslitteratur och förberedelser
Särskild behörighet
Grundläggande kunskaper i optik, elektromagnetism, fasta tillståndets fysik och halvledarfysik.
Rekommenderade förkunskaper
Grundläggande fysik och kemikurser på högskolenivå
Kurslitteratur
Du hittar information om kurslitteratur antingen i kursomgångens kurs-PM eller i kursomgångens kursrum i Canvas.
Examination och slutförande
När kurs inte längre ges har student möjlighet att examineras under ytterligare två läsår.
Betygsskala
P, F
Examination
- EXA1 - Examination, 10,5 hp, betygsskala: P, F
Examinator beslutar, baserat på rekommendation från KTH:s handläggare av stöd till studenter med funktionsnedsättning, om eventuell anpassad examination för studenter med dokumenterad, varaktig funktionsnedsättning.
Examinator får medge annan examinationsform vid omexamination av enstaka studenter.
Betygsskala: P/F
Övriga krav för slutbetyg
För godkänt (P) krävs:
- godkänt på laborationerna.
- godkänt på muntlig examination av individuella projekt.
- muntlig presentation av principer och mätresultat från en utvald teknik.
Undervisningsspråk: Engelska
Examinator
Etiskt förhållningssätt
- Vid grupparbete har alla i gruppen ansvar för gruppens arbete.
- Vid examination ska varje student ärligt redovisa hjälp som erhållits och källor som använts.
- Vid muntlig examination ska varje student kunna redogöra för hela uppgiften och hela lösningen.
Ytterligare information
Kursrum i Canvas
Registrerade studenter hittar information för genomförande av kursen i kursrummet i Canvas. En länk till kursrummet finns under fliken Studier i Personliga menyn vid kursstart.
Ges av
Huvudområde
Denna kurs tillhör inget huvudområde.
Utbildningsnivå
Forskarnivå